PAZIM, R. C.; PRADO, R. J. Novo método para a caracterização óptica de filmes finos. Revista Educar Mais, [S. l.], v. 8, p. 408–430, 2024. DOI: 10.15536/reducarmais.8.2024.4023. Disponível em: https://periodicos.ifsul.edu.br/index.php/educarmais/article/view/4023. Acesso em: 21 nov. 2024.